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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5331622 | 露光装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331828 | 荷電粒子線装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5329119 | 液体クロマトグラフ装置用の分離カラム及びそれを用いた液体クロマトグラフ装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5328474 | プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のマスク保護方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5325580 | ＳＥＭを用いた欠陥観察方法及びその装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5323457 | 観察条件決定支援装置および観察条件決定支援方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325840 | アミノ酸分析装置、およびアミノ酸分析装置の起動時の処理方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5324534 | 検査方法及び装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325997 | 自動分析装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325681 | 荷電粒子線装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325388 | パネルホルダ装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325531 | 荷電粒子線装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5320551 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板位置決め方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325802 | 観察方法および観察装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5320329 | ＳＥＭ式欠陥観察装置および欠陥画像取得方法 | 2013年10月23日 |
717 件中 151-165 件を表示
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5331622 5331828 5329119 5328474 5325580 5323457 5325840 5324534 5325997 5325681 5325388 5325531 5320551 5325802 5320329
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