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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5319930 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5317618 | 表示パネルモジュール組立装置及び基板搬送装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5319931 | 電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315025 | スペクトル解析および表示 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315033 | 電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315040 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置による画像取得条件決定方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5317468 | 欠陥検査装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5317556 | 電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315277 | ＦＰＤモジュールの組立装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314369 | 欠陥検査装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315273 | ＦＰＤモジュールの組立装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315076 | 電子線の影響を考慮した半導体検査方法及び装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315195 | 走査透過電子顕微鏡および走査透過像観察方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315302 | 走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5308321 | ディスクの表面欠陥検査方法および検査装置 | 2013年10月 9日 |
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5319930 5317618 5319931 5315025 5315033 5315040 5317468 5317556 5315277 5314369 5315273 5315076 5315195 5315302 5308321
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