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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5308572 | 走査電子顕微鏡及びそれを用いた検査方法 | 2013年10月 9日 | |
| 特許 5308766 | パターンサーチ条件決定方法、及びパターンサーチ条件設定装置 | 2013年10月 9日 | |
| 特許 5303230 | 画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5305967 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303217 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302724 | 有機ＥＬ用マスククリーニング装置および有機ＥＬ用マスククリーニング方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303521 | 核酸検査装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303412 | 検査装置、およびウエハチャックの清掃方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303515 | 自動分析装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302541 | プラズマ処理装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302806 | 複合磁気ヘッドにおけるヘッド間のオフセット量測定方法および測定装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302605 | カラーフィルタ現像装置及び現像方法並びにカラーフィルタ製造システム及び製造方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303286 | 質量分析装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5306030 | 電気泳動装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303517 | 荷電粒子線装置、および欠陥観察装置、および管理サーバ | 2013年10月 2日 |
717 件中 211-225 件を表示
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5308572 5308766 5303230 5305967 5303217 5302724 5303521 5303412 5303515 5302541 5302806 5302605 5303286 5306030 5303517
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