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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5303517 | 荷電粒子線装置、および欠陥観察装置、および管理サーバ | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302806 | 複合磁気ヘッドにおけるヘッド間のオフセット量測定方法および測定装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5305967 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302814 | プラズマ処理装置 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5302605 | カラーフィルタ現像装置及び現像方法並びにカラーフィルタ製造システム及び製造方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5297261 | 観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5296751 | 試料検査装置及び吸収電流像の作成方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5296655 | ガスの温湿度調節方法及びガス供給装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5301405 | 表面欠陥検査装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5301293 | 欠陥検査装置およびその方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5300249 | 液体分析装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5297930 | 欠陥検査装置およびその方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5297929 | 質量分析装置、および質量分析方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5296723 | 分光光度計、及びその性能測定方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5296015 | 自動分析装置 | 2013年 9月25日 |
717 件中 226-240 件を表示
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5303517 5302806 5305967 5302814 5302605 5297261 5296751 5296655 5301405 5301293 5300249 5297930 5297929 5296723 5296015
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