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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5296751 | 試料検査装置及び吸収電流像の作成方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5292267 | 試料処理装置、試料処理方法及びこれらに使用する反応容器 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5294548 | 糖鎖修飾タンパク質又は糖鎖修飾ペプチド同定方法及び装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292326 | 標準試料作成方法、および標準試料 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292325 | 試薬容器 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292268 | パターンドメディア用ハードディスク表面検査装置及び表面検査方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292132 | 画像形成装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292043 | 欠陥観察装置及び欠陥観察方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5294678 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5290063 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板温度制御方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292412 | 荷電粒子線応用装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5292348 | 複合荷電粒子線装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5291911 | 計測システム | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5291419 | データ処理装置及びデータ処理方法並びにこれを用いた検査作業支援システム | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5290238 | 電子顕微鏡 | 2013年 9月18日 |
717 件中 241-255 件を表示
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5296751 5292267 5294548 5292326 5292325 5292268 5292132 5292043 5294678 5290063 5292412 5292348 5291911 5291419 5290238
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