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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4654216 | 荷電粒子線装置用試料ホールダ | 2011年 3月16日 | 共同出願 |
| 特許 4654299 | 走査型電子顕微鏡点収差計測アライメントチップ | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654259 | 自動分析装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654256 | 自動分析装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654093 | 回路パターン検査方法及びその装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654088 | 液体クロマトグラフ装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654087 | 質量分析計及び質量分析方法 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654018 | 集束イオンビーム加工装置、試料台、及び試料観察方法 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4653972 | イオントラップ／飛行時間型質量分析装置および質量分析方法 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4652917 | 欠陥データ処理方法、およびデータの処理装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4651715 | 液体分析装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4651505 | 高速液体クロマトグラフ用カラム | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4654097 | 半導体製造装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4653666 | 電子顕微鏡およびその制御方法 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4653603 | プラズマエッチング方法 | 2011年 3月16日 |
350 件中 256-270 件を表示
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4654216 4654299 4654259 4654256 4654093 4654088 4654087 4654018 4653972 4652917 4651715 4651505 4654097 4653666 4653603
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