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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4994161 | メタルゲートのドライエッチング方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4997076 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置における画像生成方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4997045 | 電子線応用装置に用いられる試料保持機構 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4997013 | 電子分光器を備えた電子顕微鏡 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4996206 | 形状観察装置および形状観察方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4995858 | 荷電粒子線装置の光軸調整方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4991410 | 集束イオンビーム装置 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4991390 | マイクロサンプル加熱用試料台 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4988905 | 荷電粒子線装置 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4988662 | 荷電粒子線装置 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4988308 | ガス増幅形検出器およびそれを用いた電子線応用装置 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4988175 | 荷電粒子装置用試料台 | 2012年 8月 1日 | 共同出願 |
| 特許 4988433 | 生体および化学反応分析キット | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4988274 | パターンのずれ測定方法、及びパターン測定装置 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4988224 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2012年 8月 1日 |
547 件中 256-270 件を表示
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4994161 4997076 4997045 4997013 4996206 4995858 4991410 4991390 4988905 4988662 4988308 4988175 4988433 4988274 4988224
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