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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5291419 | データ処理装置及びデータ処理方法並びにこれを用いた検査作業支援システム | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5290238 | 電子顕微鏡 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5284928 | 液体混合方法及び分注装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286314 | 核酸分析装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286308 | 試料ステージおよび荷電粒子線装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286299 | 分析装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286134 | 検体検査システムとその装置管理サーバの運用方法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286120 | 自動分析装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286337 | 半導体製造装置の管理装置、及びコンピュータプログラム | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286094 | 荷電粒子線装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5286004 | 基板の検査装置、および、基板の検査方法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5285944 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線を用いた試料観察手法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5285735 | 質量分析装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5280983 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置に使用する位置特定方法及びプログラム | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5280928 | 真空処理装置の運転方法 | 2013年 9月 4日 |
717 件中 256-270 件を表示
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5291419 5290238 5284928 5286314 5286308 5286299 5286134 5286120 5286337 5286094 5286004 5285944 5285735 5280983 5280928
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