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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4653153 | 電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4646934 | エンジンの排気処理装置及びこれを用いたエンジンの排気処理方法 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4645781 | 基板処理方法及び基板処理装置 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4647253 | プラズマ処理装置の処理室内壁面安定化処理方法 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4647974 | 欠陥レビュー装置、データ管理装置、欠陥観察システム及び欠陥レビュー方法 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4646730 | プラズマ処理装置の表面異物検出装置および検出方法 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4648232 | 不良解析方法及び不良解析システム | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4644613 | 欠陥観察方法及びその装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644560 | 質量分析システム | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644506 | 質量分析装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644470 | イオンビーム加工装置および試料作製方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644084 | 電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡システムおよび電子顕微鏡の制御方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644065 | 走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4643206 | 質量分析装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4642714 | ディスク搬送機構、これを利用したディスク検査装置およびディスク検査方法 | 2011年 3月 2日 |
350 件中 271-285 件を表示
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4653153 4646934 4645781 4647253 4647974 4646730 4648232 4644613 4644560 4644506 4644470 4644084 4644065 4643206 4642714
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