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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2025年6月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4634324 | 透過電子顕微鏡 | 2011年 2月16日 | 共同出願 |
| 特許 4634852 | ＳＥＭ式外観検査装置および検査方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634469 | キャピラリ電気泳動装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634310 | 定量分析装置及び定量分析方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634289 | 半導体パターン形状評価装置および形状評価方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634288 | 集束イオンビーム加工方法及び荷電粒子ビーム装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634236 | 電子式パターン検査装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4632037 | 熱圧着装置及び半導体装置の搭載装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634295 | 電子顕微鏡の真空排気装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4628807 | 真空処理装置および真空処理方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629118 | 欠陥検査装置およびこの欠陥検査装置に用いるパラメータ調整方法。 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627744 | 飛行時間型質量分析計 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627731 | 荷電粒子線装置に用いる高さ検出装置及び高さ検出方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627684 | キャピラリアレイ電気泳動装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627682 | 試料作製装置および方法 | 2011年 2月 9日 |
350 件中 301-315 件を表示
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4634324 4634852 4634469 4634310 4634289 4634288 4634236 4632037 4634295 4628807 4629118 4627744 4627731 4627684 4627682
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