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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4970315 | 磁気ヘッドスライダ検査装置および磁気ヘッドスライダ検査方法 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4969635 | パターンレイヤーデータ生成方法、及びパターンレイヤーデータ生成装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4969545 | 半導体製造装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4969259 | プラズマ処理装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4969231 | 試料電位情報検出方法及び荷電粒子線装置 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4966693 | 試料搬送装置及び方法 | 2012年 7月 4日 | |
| 特許 4964161 | 磁性粒子を用いた分析方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961500 | パターン形状評価装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961161 | 検査装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961223 | プラズマ処理装置の圧力制御方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4959637 | 半導体製造検査装置を遠隔で保守する作業装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961408 | サーボ情報書込み方法及びこれを用いる磁気ヘッド検査装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961402 | 磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及び検査方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4963694 | プラズマ処理装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4959450 | 化学分析装置 | 2012年 6月20日 |
547 件中 316-330 件を表示
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4970315 4969635 4969545 4969259 4969231 4966693 4964161 4961500 4961161 4961223 4959637 4961408 4961402 4963694 4959450
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