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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5268532 | 試料計測方法、及び計測装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268445 | フローインジェクション分析装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271567 | 画像前処理装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5269706 | 液体金属イオン銃の生産方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268626 | プラズマ処理装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268625 | プラズマ処理装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268324 | 荷電粒子線顕微装置及び顕微方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5260231 | 磁性粒子溶液の攪拌装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5265928 | 基板処理装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5260339 | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5260212 | 成膜装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5265102 | 表示制御装置、表示制御方法、および、表示制御プログラム | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5264118 | 電子顕微鏡、及び試料管理方法 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5260267 | 自動分析装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5260183 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2013年 8月14日 |
717 件中 316-330 件を表示
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5268532 5268445 5271567 5269706 5268626 5268625 5268324 5260231 5265928 5260339 5260212 5265102 5264118 5260267 5260183
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