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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4959225 | 光学式検査方法及び光学式検査装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4958622 | 試料分析システム及び試料搬送方法 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4955342 | 液体クロマトグラフ装置及び試料導入装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4955301 | 化学分析装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4958616 | ホットスポット絞り込み装置、ホットスポット絞り込み方法、ホットスポット絞り込みプログラム、ホットスポット検査装置、および、ホットスポット検査方法 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4959381 | パターン測定方法、及び電子顕微鏡 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4955242 | 荷電粒子線装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4951712 | 有機ＥＬデバイス製造装置及び同製造方法並びに成膜装置及び成膜方法 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4951578 | 電気泳動装置 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4951566 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4951496 | 画像生成方法及びその画像生成装置 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4951428 | 分析データ処理装置およびファイル保存方法 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4950716 | 画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4949764 | 自動分析装置のオーダリング方法 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4951591 | パターンの消失に対応したマッチング方式及びそれを用いた検査装置 | 2012年 6月13日 |
547 件中 331-345 件を表示
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4959225 4958622 4955342 4955301 4958616 4959381 4955242 4951712 4951578 4951566 4951496 4951428 4950716 4949764 4951591
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