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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5260156 | 自動分析装置管理システム | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5264399 | 平面ディスプレイモジュール組み立て装置の可変搭載機構および平面ディスプレイの製造装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5260981 | 真空処理装置 | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5260575 | 電子顕微鏡、および試料ホルダ | 2013年 8月14日 | |
| 特許 5259981 | 自動分析装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5259669 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5259550 | 自動分析装置およびサンプル分注方法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5258673 | 検体処理システムの分注計画方法及び分注計画装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5258457 | 光分析装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5256003 | 光学式検査装置および光学式検査方法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255986 | パターンドメディアの検査方法及び検査装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255953 | 欠陥検査方法及び装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255825 | 自動分析装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255553 | 自動分析装置用分注ノズル及びそれを搭載した自動分析装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255319 | 欠陥観察装置、および欠陥観察方法 | 2013年 8月 7日 |
717 件中 331-345 件を表示
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5260156 5264399 5260981 5260575 5259981 5259669 5259550 5258673 5258457 5256003 5255986 5255953 5255825 5255553 5255319
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