ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2012年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4951279 | プラズマ処理装置 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4948447 | フィルム部材の打ち抜き供給装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4948647 | 尿中粒子画像の領域分割方法及び装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945608 | 自動分析装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945342 | 自動分析装置、および自動分析装置の分注方法 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945181 | 表面検査方法および表面検査装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945383 | 仕様書内容検査方法および仕様書内容検査システム | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945463 | 荷電粒子線装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945267 | 電子顕微鏡 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4943879 | プラズマ処理装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943733 | 荷電粒子ビームを用いた検査方法及び検査装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4939843 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943780 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943777 | 欠陥データ処理装置、欠陥データ処理システム、及び欠陥データ処理方法 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943716 | プラズマ処理装置 | 2012年 5月30日 |
547 件中 346-360 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4951279 4948447 4948647 4945608 4945342 4945181 4945383 4945463 4945267 4943879 4943733 4939843 4943780 4943777 4943716
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
1月21日(火) -
1月21日(火) -
1月21日(火) - 東京 港区
1月21日(火) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 港区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 千代田区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) - 東京 港区
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月24日(金) - 東京 港区
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) -
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) - 大阪 大阪市
1月24日(金) - 神奈川 川崎市
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月21日(火) -
1月27日(月) - 東京 港区
1月28日(火) - 東京 港区
1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) - 大阪 大阪市
1月29日(水) - 東京 港区
1月29日(水) - 東京 港区
1月29日(水) - 東京 品川区
1月29日(水) -
1月29日(水) -
1月29日(水) -
1月30日(木) -
1月30日(木) -
1月30日(木) -
1月30日(木) - 東京 港区
1月31日(金) -
1月27日(月) - 東京 港区
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング
茨城県牛久市ひたち野東4-7-3 ブリーズノース101 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒541-0046 大阪市中央区平野町２丁目２番９号 ビル皿井２階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
