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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4951279 | プラズマ処理装置 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4948447 | フィルム部材の打ち抜き供給装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4948647 | 尿中粒子画像の領域分割方法及び装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945608 | 自動分析装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945342 | 自動分析装置、および自動分析装置の分注方法 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945181 | 表面検査方法および表面検査装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945383 | 仕様書内容検査方法および仕様書内容検査システム | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945463 | 荷電粒子線装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4945267 | 電子顕微鏡 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4943879 | プラズマ処理装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943733 | 荷電粒子ビームを用いた検査方法及び検査装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4939843 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943780 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943777 | 欠陥データ処理装置、欠陥データ処理システム、及び欠陥データ処理方法 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943716 | プラズマ処理装置 | 2012年 5月30日 |
547 件中 346-360 件を表示
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4951279 4948447 4948647 4945608 4945342 4945181 4945383 4945463 4945267 4943879 4943733 4939843 4943780 4943777 4943716
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