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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5254441 | フロー式粒子画像解析方法及び装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5254193 | キャピラリ電気泳動装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5259564 | ＦＰＤモジュールの組立装置および組立方法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5259691 | プラズマ処理方法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255974 | 真空室内のガス成分測定方法、及び真空装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5255531 | 荷電粒子線装置用の試料ホルダ | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5248455 | マスククリーニング装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5253217 | 基板アライメント方法、基板アライメント装置、レーザ加工裝置及びソーラパネル製造方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250280 | トロリ線の支持点検出装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5253953 | 核酸抽出効率向上剤、核酸抽出法及び核酸抽出装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5249988 | 核酸増幅装置及びそれを用いた核酸検査装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250470 | 試料ホールダ，該試料ホールダの使用法、及び荷電粒子装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250409 | 分析データ処理システム | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250395 | 検査装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250050 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2013年 7月31日 |
717 件中 346-360 件を表示
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5254441 5254193 5259564 5259691 5255974 5255531 5248455 5253217 5250280 5253953 5249988 5250470 5250409 5250395 5250050
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