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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4940184 | 真空処理装置および真空処理方法 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4940053 | 荷電粒子線装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4938378 | 生体磁場計測装置、生体磁場計測装置の測定位置設定方法 | 2012年 5月23日 | |
| 特許 4939134 | インプリント装置およびインプリント方法 | 2012年 5月23日 | |
| 特許 4937934 | キャピラリアレイユニット及びキャピラリ電気泳動装置 | 2012年 5月23日 | |
| 特許 4936934 | ステージ機構、及びそれを備えた電子顕微鏡、並びにステージ機構の位置決め制御方法 | 2012年 5月23日 | |
| 特許 4936985 | 走査電子顕微鏡およびそれを用いた三次元形状測定装置 | 2012年 5月23日 | |
| 特許 4934644 | ディスク洗浄機構およびディスク洗浄装置 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4931332 | 糖の除去方法 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4934647 | 液体クロマトグラフ用ポンプ | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4933198 | 自動分析装置 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4931502 | 表面検査方法及び検査装置 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4933111 | 焦点調整方法及び焦点調整装置 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4928816 | 半導体製造装置 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4929317 | 自動分析装置 | 2012年 5月 9日 |
547 件中 361-375 件を表示
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4940184 4940053 4938378 4939134 4937934 4936934 4936985 4934644 4931332 4934647 4933198 4931502 4933111 4928816 4929317
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