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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5249908 | 液体クロマトグラフ装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5249905 | 臨床検査システム及び臨床検査法方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5253037 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5249736 | 基板製造・検査装置およびそのウイルスチェック方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5253533 | 走査型電子顕微鏡 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250490 | プラズマ処理装置及びそのメンテナンス方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250476 | ドライエッチング方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5250350 | 荷電粒子線応用装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5249184 | フラットパネルディスプレイの実装装置および実装方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5248553 | 試料ステージ装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5248128 | 画像信号処理方法及び装置、並びに荷電粒子線装置 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5248063 | 半導体素子加工方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5242787 | 前処理装置及びそれを備えた質量分析装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5244676 | トロリ線摩耗量検出光学系およびトロリ線摩耗量測定装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5242537 | 試薬容器、および試薬容器用管体 | 2013年 7月24日 |
717 件中 361-375 件を表示
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5249908 5249905 5253037 5249736 5253533 5250490 5250476 5250350 5249184 5248553 5248128 5248063 5242787 5244676 5242537
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