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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5236037 | ミラー電子式試料検査装置 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5236362 | プロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置の基板搬送方法 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5241922 | 走査電子顕微鏡 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5241353 | 走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5241273 | 荷電粒子装置および使用手法 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5241168 | 電子顕微鏡 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5238199 | イオンミリング装置、およびイオンミリング方法 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5234648 | レーザ加工方法、レーザ加工装置及びソーラパネル製造方法 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232077 | 微細構造転写装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232112 | 成膜装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5231917 | 成膜装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5231903 | プラズマ処理装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5235279 | イオン捕集装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5231927 | 微小突起物検査装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5231355 | 自動分析装置 | 2013年 7月10日 |
717 件中 391-405 件を表示
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5236037 5236362 5241922 5241353 5241273 5241168 5238199 5234648 5232077 5232112 5231917 5231903 5235279 5231927 5231355
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