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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特許 4914732	レール変位量測定方法およびレール変位量測定装置	2012年 4月11日
特許 4914604	電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステム、並びに写像投影型又はマルチビーム型電子線検査装置	2012年 4月11日
特許 4914180	時定数測定機能を搭載した走査型電子顕微鏡	2012年 4月11日
特許 4914178	ショットキー電子銃及びショットキー電子銃を搭載する荷電粒子線装置	2012年 4月11日
特許 4914139	半導体処理装置	2012年 4月11日
特許 4914119	プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置	2012年 4月11日
特許 4908316	洗浄装置、フラットパネルディスプレイの製造装置及びフラットパネルディスプレイ	2012年 4月 4日
特許 4909813	電子放出素子，電子銃およびそれを用いた電子ビーム応用装置	2012年 4月 4日
特許 4909859	検査装置及び検査方法	2012年 4月 4日
特許 4909744	キャピラリ電気泳動装置及び電気泳動方法	2012年 4月 4日
特許 4909215	検査方法および装置	2012年 4月 4日
特許 4908995	欠陥分類方法及びその装置並びに欠陥検査装置	2012年 4月 4日
特許 4908934	半導体ウェーハ検査装置および半導体ウェーハ検査方法	2012年 4月 4日
特許 4908925	ウェハ表面欠陥検査装置およびその方法	2012年 4月 4日
特許 4908045	プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置	2012年 4月 4日

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4914732 4914604 4914180 4914178 4914139 4914119 4908316 4909813 4909859 4909744 4909215 4908995 4908934 4908925 4908045

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