ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2011年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件 (2010年:第70位 624件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件 (2010年:第95位 307件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4832375 | 試料像形成方法及び荷電粒子線装置 | 2011年12月 7日 | |
特許 4832222 | プラズマ処理装置 | 2011年12月 7日 | |
特許 4832005 | 磁場遮蔽装置及び磁場計測装置 | 2011年12月 7日 | |
特許 4825469 | 半導体デバイスの欠陥レビュー方法及びその装置 | 2011年11月30日 | |
特許 4825530 | パターン欠陥検査方法および装置 | 2011年11月30日 | |
特許 4825734 | 異種計測装置間のキャリブレーション方法及びそのシステム | 2011年11月30日 | |
特許 4825021 | レポートフォーマット設定方法、レポートフォーマット設定装置、及び欠陥レビューシステム | 2011年11月30日 | |
特許 4825442 | 臨床検査用自動分析装置の精度管理方法、及び自動分析装置 | 2011年11月30日 | |
特許 4825731 | キャピラリ電気泳動装置 | 2011年11月30日 | |
特許 4825689 | 真空処理装置 | 2011年11月30日 | |
特許 4827512 | 炭素材料の精製方法及びその精製装置 | 2011年11月30日 | |
特許 4824987 | パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム | 2011年11月30日 | |
特許 4828162 | 電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 | 2011年11月30日 | |
特許 4822682 | イコライザ回路、高周波アナログ信号伝送路並びにハードディスクの検査装置 | 2011年11月24日 | |
特許 4814384 | 弁体 | 2011年11月16日 |
350 件中 31-45 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4832375 4832222 4832005 4825469 4825530 4825734 4825021 4825442 4825731 4825689 4827512 4824987 4828162 4822682 4814384
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
〒104-0061 東京都中央区銀座1-8-2 銀座プルミエビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都練馬区豊玉北6-11-3 長田ビル3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 鑑定 コンサルティング
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅三丁目13番24号 第一はせ川ビル6階 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング