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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4832375 | 試料像形成方法及び荷電粒子線装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4832222 | プラズマ処理装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4832005 | 磁場遮蔽装置及び磁場計測装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4825469 | 半導体デバイスの欠陥レビュー方法及びその装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825530 | パターン欠陥検査方法および装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825734 | 異種計測装置間のキャリブレーション方法及びそのシステム | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825021 | レポートフォーマット設定方法、レポートフォーマット設定装置、及び欠陥レビューシステム | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825442 | 臨床検査用自動分析装置の精度管理方法、及び自動分析装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825731 | キャピラリ電気泳動装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825689 | 真空処理装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4827512 | 炭素材料の精製方法及びその精製装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4824987 | パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム | 2011年11月30日 | |
| 特許 4828162 | 電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4822682 | イコライザ回路、高周波アナログ信号伝送路並びにハードディスクの検査装置 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4814384 | 弁体 | 2011年11月16日 |
350 件中 31-45 件を表示
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4832375 4832222 4832005 4825469 4825530 4825734 4825021 4825442 4825731 4825689 4827512 4824987 4828162 4822682 4814384
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