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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5097522 | 自動分析装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097737 | 自動分析装置及びサンプル分注ノズル | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097168 | 異方性導電フィルム貼り付け装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097804 | 自動分析装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094612 | 試料保持装置、及び、荷電粒子線装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097512 | 荷電粒子ビーム用軌道補正器、及び荷電粒子ビーム装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094289 | プラズマ処理装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097823 | イオンビーム装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5096835 | ＡＣＦ貼付け装置及びフラットパネルディスプレイの製造装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094033 | パターンマッチング方法、及びパターンマッチングを行うためのコンピュータープログラム | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094282 | ローカル帯電分布精密計測方法及び装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094769 | ウエハの検査方法、ウエハ検査装置および半導体集積回路装置の製造方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094362 | 質量分析装置およびその制御方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094048 | 外観検査装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5096816 | ＧＵＩを備えた電子顕微鏡 | 2012年12月12日 |
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5097522 5097737 5097168 5097804 5094612 5097512 5094289 5097823 5096835 5094033 5094282 5094769 5094362 5094048 5096816
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