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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4902342 | 検査装置 | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4901784 | 荷電粒子線装置 | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4901626 | 自動整合器および自動整合器の寿命判定方法 | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4901254 | パターンマッチング方法、及びパターンマッチングを行うためのコンピュータプログラム | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4898561 | 原子吸光分析法及び原子吸光光度計 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4898526 | 多段検量線作成方法、および分析装置 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4897402 | 検体容器用アダプタ、及び検体容器用ラック | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4895932 | ウェハの表面検査方法及びウェハ表面検査装置 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4895569 | 帯電制御装置及び帯電制御装置を備えた計測装置 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4898556 | プラズマ処理装置 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4896626 | 走査電子顕微鏡 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4896106 | 電子顕微鏡 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4895938 | 電界放出型電子銃およびそれを用いた電子線応用装置 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4895525 | 走査透過電子顕微鏡装置 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4896096 | 荷電粒子線装置用試料ホールダ | 2012年 3月14日 | 共同出願 |
547 件中 436-450 件を表示
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4902342 4901784 4901626 4901254 4898561 4898526 4897402 4895932 4895569 4898556 4896626 4896106 4895938 4895525 4896096
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