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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5210902 | 自動分析装置及び自動分析装置を用いた分析方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5210418 | 質量分析装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5209705 | 自動分析装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5208896 | 欠陥検査装置およびその方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5208571 | ベローズ装置及びそれを用いた分注装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5211250 | 磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及び検査方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5210706 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5210666 | 走査電子顕微鏡 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5209859 | プラズマエッチング方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5208910 | 透過型電子顕微鏡及び試料観察方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5203102 | 半導体処理装置の運転方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205524 | 検体ラック収納部、自動分析装置、検体ラック設置設備、及び検体ラック | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205234 | 微小試料採取装置，検査解析システム、および検査解析方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205208 | 質量分析データ処理システム | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5204748 | 臨床検査用の分析装置 | 2013年 6月 5日 |
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5210902 5210418 5209705 5208896 5208571 5211250 5210706 5210666 5209859 5208910 5203102 5205524 5205234 5205208 5204748
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