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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5204172 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5203787 | データ解析装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5203650 | レシピ作成システム、及びレシピ作成方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5203283 | 電気泳動装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5202462 | パターン欠陥検査装置および方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5202272 | 液体クロマトグラフ、液体クロマトグラフ用送液ポンプおよび液体クロマトグラフの洗浄方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5202071 | 荷電粒子顕微鏡装置及びそれを用いた画像処理方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5203334 | アライメントマーク管理装置、アライメントマーク管理システム及びプログラム | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205515 | 試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205306 | 走査型電子顕微鏡 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205202 | 荷電粒子線の調整方法、及び荷電粒子線装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5205045 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5204979 | 撮像レシピの生成方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5204277 | 荷電粒子線装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5203781 | 試料ステージ装置及びその制御方法 | 2013年 6月 5日 |
717 件中 481-495 件を表示
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5204172 5203787 5203650 5203283 5202462 5202272 5202071 5203334 5205515 5205306 5205202 5205045 5204979 5204277 5203781
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