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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5203612 | プラズマ処理装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5203456 | 荷電粒子線装置、及びその制御方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5202568 | 半導体検査装置及びそのコンピュータプログラム | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5202136 | 荷電粒子線装置 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5202110 | パターン形状評価方法，パターン形状評価装置，パターン形状評価データ生成装置およびそれを用いた半導体形状評価システム | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5198420 | 画像処理装置、及び、測定／検査システム、並びに、プログラム | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5198380 | 自動分析装置 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5197249 | 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5199977 | ヘッド位置制御装置および磁気記録評価装置並びにヘッド位置制御方法 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5198654 | 合成画像作成方法及び装置 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5198616 | プラズマ処理装置 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5198546 | 回路パターン検査方法、及び回路パターン検査システム | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5193662 | 微細構造転写装置 | 2013年 5月 8日 | |
| 特許 5194040 | 表示装置、及び検査装置 | 2013年 5月 8日 | |
| 特許 5193940 | 自動分析装置 | 2013年 5月 8日 |
717 件中 496-510 件を表示
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5203612 5203456 5202568 5202136 5202110 5198420 5198380 5197249 5199977 5198654 5198616 5198546 5193662 5194040 5193940
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