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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4865253 | プラズマ処理装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4863948 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4863764 | 半導体試験装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861933 | 自動分析装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861107 | クロマトグラフ装置および分析方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4860575 | クロマトグラフィー質量分析の分析結果表示方法及び表示装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4860367 | 液体クロマトグラフ装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4863939 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861947 | Ａｌ２Ｏ３膜のドライエッチング方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4863886 | 電子線応用装置および電子源の安定稼動状態判定方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4863773 | 電子顕微鏡装置およびブレーキ機構 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861747 | 座標補正方法および観察装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861675 | 荷電粒子線装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4860294 | 電子顕微鏡 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4857049 | デュワおよびそれを備えた生体磁気計測装置 | 2012年 1月18日 |
547 件中 511-525 件を表示
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4865253 4863948 4863764 4861933 4861107 4860575 4860367 4863939 4861947 4863886 4863773 4861747 4861675 4860294 4857049
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