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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4857223 | 自動分析装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4854256 | パネル処理装置及び処理方法 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4856978 | プラズマエッチング装置及び処理室の内壁の形成方法 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857384 | 電気泳動装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857240 | 半導体ウェーハ検査装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857174 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857155 | データ処理装置，検査システム、およびデータ処理方法 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857090 | 校正用標準部材およびその作製方法、並びに校正用標準部材を用いた走査電子顕微鏡 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857088 | 電気泳動装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857000 | 質量分析システム | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4856993 | 自己診断型自動分析装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4856499 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4855978 | 自動分析装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4855974 | 分析システム | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4857095 | 欠陥レビュー方法及びその装置 | 2012年 1月18日 |
547 件中 526-540 件を表示
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4857223 4854256 4856978 4857384 4857240 4857174 4857155 4857090 4857088 4857000 4856993 4856499 4855978 4855974 4857095
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