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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5186466 | 化学分析装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5183457 | 自動分析装置、その支援システム | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5183396 | 異物検出装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5183322 | 分離カラムおよび液体クロマトグラフ | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5184767 | 露光装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5185790 | プラズマ処理装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5185506 | 荷電粒子線パターン測定装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5183912 | 荷電ビーム装置、及びそのクリーニング方法 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5183318 | 荷電粒子線装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5183230 | 荷電粒子線装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5180608 | ディスク表面の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5180428 | 走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5179577 | 検体前処理システム | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5178891 | 自動分析装置 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5178830 | 自動分析装置 | 2013年 4月10日 |
717 件中 541-555 件を表示
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5186466 5183457 5183396 5183322 5184767 5185790 5185506 5183912 5183318 5183230 5180608 5180428 5179577 5178891 5178830
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