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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5175577 | 集積回路パターンの欠陥検査方法、及びその装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174930 | 自動分析装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174863 | 画像取得条件設定装置、及びコンピュータプログラム | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174766 | 自動分析装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174757 | 半導体パターンの計測方法及び計測システム | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174750 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線画像を安定に取得する方法 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174697 | 欠陥検査装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174629 | 自動分析装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174558 | 分光分析装置および光源電源 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174535 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5173959 | 画像処理方法及び画像処理装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5175815 | 電子部品実装処理装置及び実装処理方法並びに電子部品実装アライメント方法 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5175825 | 画像データ配信方法及び検査装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174862 | 荷電粒子線装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5174844 | 回路パターン検査装置およびその検査方法 | 2013年 4月 3日 |
717 件中 571-585 件を表示
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5175577 5174930 5174863 5174766 5174757 5174750 5174697 5174629 5174558 5174535 5173959 5175815 5175825 5174862 5174844
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