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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5161694 | 真空処理装置 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5161469 | プラズマ処理装置 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5162023 | パターンの形成された基板の粗さを得る方法、パターンの形成された基板の粗さを得るための装置 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5160651 | 自動分析装置 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5160461 | 自動分析装置 | 2013年 3月13日 | 共同出願 |
| 特許 5155814 | インプリント装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5156767 | 試料検査装置及び吸収電流像の作成方法 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5156681 | 自動分析装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5156619 | 試料寸法検査・測定方法、及び試料寸法検査・測定装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5156413 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5156282 | 自動分析装置のラック搬送方法 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5155937 | 送液装置および液体クロマトグラフ装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5159259 | 圧着装置及びフラットパネルディスプレイの製造装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5155235 | プラズマ処理装置およびプラズマ生成装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5155224 | 荷電粒子線装置 | 2013年 3月 6日 |
717 件中 616-630 件を表示
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5161694 5161469 5162023 5160651 5160461 5155814 5156767 5156681 5156619 5156413 5156282 5155937 5159259 5155235 5155224
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