ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2013年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5155209 | ステージ装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5154527 | 異物検査装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154201 | 検体分注装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5153270 | ディスクの周面欠陥検出方法および検出装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5153348 | 荷電粒子ビーム軌道補正器及び荷電粒子ビーム装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5153212 | 荷電粒子線装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5150390 | 混合器及び液体分析装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5150370 | 質量分析システムおよび質量分析方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5150303 | 電子顕微鏡システム及びそれを用いたレジストパターンの膜厚減少量評価方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5147906 | 精度管理システム | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5147567 | 電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5147448 | 半導体外観検査装置用画像処理装置及び半導体外観検査装置、並びに画像処理方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5147202 | 光学式欠陥検査装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5149251 | 熱圧着装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5150053 | プラズマ処理装置 | 2013年 2月20日 |
717 件中 631-645 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5155209 5154527 5154201 5153270 5153348 5153212 5150390 5150370 5150303 5147906 5147567 5147448 5147202 5149251 5150053
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
