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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5135115 | 荷電粒子線を用いた検査方法および検査装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134931 | 自動分析装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134862 | 分析装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134636 | 高速液体クロマトグラフ装置及び高速液体クロマトグラフ装置の液体送液方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134603 | 光ビーム調整方法及び光ビーム調整装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5133394 | 走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5132982 | パターン欠陥検査装置および方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134523 | 光学フィルム貼付け装置、光学フィルム貼付け方法、および表示用パネルの製造方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5133271 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板支持方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134826 | 荷電粒子線装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134804 | 走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134439 | イオンビーム装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5129509 | 透過型電子顕微鏡及び撮影方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5133722 | 電圧源回路 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5133338 | 樹脂混合用複合フィラー | 2013年 1月30日 |
717 件中 661-675 件を表示
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5135115 5134931 5134862 5134636 5134603 5133394 5132982 5134523 5133271 5134826 5134804 5134439 5129509 5133722 5133338
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