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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5127646 | 検体ラック | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5127148 | イオンビーム加工装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124540 | 物品搬送システム，検体処理システム | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124499 | フローセルを用いた液体クロマトグラフ用の検出器及び液体クロマトグラフ | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124498 | 自動分析装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124497 | 自動分析装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124293 | 質量分析計および質量分析方法 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5127599 | 露光装置及び露光装置のランプ破裂検出方法 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124355 | 遠隔保守システム | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5127411 | 走査型電子顕微鏡 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124507 | 電子線装置および電子線装置用試料保持装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124295 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124002 | 半導体ウェーハ検査装置、及びその検査方法 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5117368 | 跨座型モノレールの走行路摩耗量の測定装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5123003 | 検査装置及び検査方法 | 2013年 1月16日 |
717 件中 676-690 件を表示
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5127646 5127148 5124540 5124499 5124498 5124497 5124293 5127599 5124355 5127411 5124507 5124295 5124002 5117368 5123003
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