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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5112557 | 質量分析システム | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5112518 | 試料分析装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5111608 | 全反射蛍光観察装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5111476 | 液体試料分析装置及び液体試料導入装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5111329 | 自動分析装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5111328 | 自動分析装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5113641 | ディスプレイパネルのＩＣ回路素子搭載装置及びディスプレイパネル | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5114338 | 荷電粒子線装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5114302 | パターン検査方法，パターン検査装置及びパターン処理装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5114168 | 電界放出型電子源およびそれを用いた電子線応用装置 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5111285 | 試料搬送機構 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5117180 | 重水素放電管用電源装置とその制御方法並びに分析装置 | 2013年 1月 9日 |
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5112557 5112518 5111608 5111476 5111329 5111328 5113641 5114338 5114302 5114168 5111285 5117180
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