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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年3月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5358336 | 自動分析装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5350123 | 荷電粒子線装置及び画像表示方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5355261 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の露光光形成方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352433 | 露光装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351823 | 自動分析装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352111 | 欠陥検査方法及びこれを用いた欠陥検査装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352329 | 実装処理作業装置及び実装処理作業方法並びに表示基板モジュール組立ライン | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352261 | 走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351709 | 薬物分析装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352397 | 反応液体クロマトグラフ装置における制御方法，反応液体クロマトグラフ装置、およびアミノ酸分析計 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352135 | 検査装置及び検査方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352335 | 複合荷電粒子線装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352537 | 成膜装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352315 | 表面検査装置及び表面検査方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351531 | 走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 | 2013年11月27日 |
717 件中 61-75 件を表示
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5358336 5350123 5355261 5352433 5351823 5352111 5352329 5352261 5351709 5352397 5352135 5352335 5352537 5352315 5351531
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