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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
(2013年:第59位 716件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
(2013年:第51位 717件)
(ランキング更新日:2025年2月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5608575 | 画像分類方法および画像分類装置 | 2014年10月15日 | |
特許 5604402 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2014年10月 8日 | |
特許 5604551 | 自動分析装置 | 2014年10月 8日 | |
特許 5604208 | 欠陥検出装置及びコンピュータプログラム | 2014年10月 8日 | |
特許 5604067 | マッチング用テンプレートの作成方法、及びテンプレート作成装置 | 2014年10月 8日 | |
特許 5603421 | 自動収差補正法を備えた荷電粒子線装置 | 2014年10月 8日 | |
特許 5604165 | 質量分析装置 | 2014年10月 8日 | |
特許 5603246 | 質量分析装置 | 2014年10月 8日 | |
特許 5600603 | 微生物自動分析装置および微生物自動分析方法 | 2014年10月 1日 | |
特許 5599488 | 試料処理方法 | 2014年10月 1日 | |
特許 5599219 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2014年10月 1日 | |
特許 5600430 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2014年10月 1日 | |
特許 5597433 | 真空処理装置 | 2014年10月 1日 | |
特許 5600447 | プラズマエッチング方法 | 2014年10月 1日 | |
特許 5597295 | 荷電粒子線装置 | 2014年10月 1日 |
625 件中 61-75 件を表示
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5608575 5604402 5604551 5604208 5604067 5603421 5604165 5603246 5600603 5599488 5599219 5600430 5597433 5600447 5597295
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
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2月19日(水) -
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
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2月27日(木) - 東京 港区
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