ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2011年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4799324 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4801007 | 電気泳動装置及びそれに用いられるポンプ機構 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4800432 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4797005 | 表面検査方法及び表面検査装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4794471 | 露光装置、及び露光装置の負圧室の天板を交換する方法 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795883 | パターン検査・計測装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795308 | 内部構造観察用及び電子顕微鏡用試料ホルダー | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795146 | 電子ビーム装置，プローブ制御方法及びプログラム | 2011年10月19日 | |
| 特許 4795755 | 半導体基板の製造装置 | 2011年10月19日 | 共同出願 |
| 特許 4795847 | 電子レンズ及びそれを用いた荷電粒子線装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4791141 | 電子線式寸法計測装置及びそれを用いた寸法計測方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791333 | パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4789651 | シミュレーション装置、シミュレーションプログラム及びシミュレーション方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791267 | 欠陥検査システム | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791840 | 荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法 | 2011年10月12日 |
350 件中 76-90 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4799324 4801007 4800432 4797005 4794471 4795883 4795308 4795146 4795755 4795847 4791141 4791333 4789651 4791267 4791840
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
6月6日(金) -
6月6日(金) -
6月10日(火) -
6月10日(火) -
6月11日(水) -
6月11日(水) -
6月12日(木) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月10日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒105-0001 東京都港区虎ノ門1丁目14番1号 郵政福祉琴平ビル 3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪市天王寺区上本町六丁目9番10号 青山ビル本館3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階（旧横山ビル） http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
