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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年2月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5595674 | 磁気ヘッドの製造方法 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5593399 | 計測装置 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5596141 | 画像処理装置、荷電粒子線装置、荷電粒子線装置調整用試料、およびその製造方法 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5596402 | 分析装置、イオン化装置及び分析方法 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5596812 | パターン生成装置およびパターン形状評価装置 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5596265 | 真空処理装置 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5596832 | プラズマ処理方法のＲｕｎ−ｔｏ−Ｒｕｎ制御方法 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5591378 | ガス電界電離イオン源、イオンビーム装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5592414 | テンプレート評価装置、顕微鏡装置及びプログラム | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5591617 | 荷電粒子線装置および該装置の制御方法 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5593213 | 検査装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5593209 | 検査装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5592863 | 真空処理装置および被処理体の搬送方法 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5593205 | 核酸分析装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5592833 | 荷電粒子線装置および静電チャック装置 | 2014年 9月17日 |
625 件中 76-90 件を表示
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5595674 5593399 5596141 5596402 5596812 5596265 5596832 5591378 5592414 5591617 5593213 5593209 5592863 5593205 5592833
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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