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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5337728 | 自動分析装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5334675 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスクの位置ずれ防止方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5335709 | コンクリート製軌道の軌道狂い測定方法および測定装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337458 | パターン形状検査方法及びその装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5334787 | プラズマ処理装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337600 | 自動分析装置及び自動分析装置の制御方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337578 | 微細凹凸パターンの欠陥判定方法、および、パターンドメディアの欠陥判定方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337144 | 質量分析装置を用いた定量分析方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337601 | 異方性導電フィルム貼り付け装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5335827 | 荷電粒子線装置及びその検出信号の補正方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5331893 | 走査荷電粒子線装置、及び色球面収差補正方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331828 | 荷電粒子線装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331597 | ステージ装置及びステージ位置決め制御方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5328474 | プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のマスク保護方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331622 | 露光装置 | 2013年10月30日 |
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5337728 5334675 5335709 5337458 5334787 5337600 5337578 5337144 5337601 5335827 5331893 5331828 5331597 5328474 5331622
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