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株式会社アドバンテスト

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　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第163位　256件（2012年：第199位　196件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2013-24704	電磁波出力装置、方法、プログラム、記録媒体および核磁気共鳴分析装置	2013年 2月 4日
再表 2011-30379	通電部材、接続部材、試験装置および接続部材を修繕する方法	2013年 2月 4日
特開 2013-26195	スイッチ装置、スイッチ装置の製造方法、伝送路切替装置、および試験装置	2013年 2月 4日
特開 2013-26854	スイッチモジュールおよびそれを用いた試験装置	2013年 2月 4日
特開 2013-20920	ケーブルアッセンブリ、コネクタ及び半導体試験装置	2013年 1月31日	共同出願
特開 2013-19843	電子部品試験装置および固定装置	2013年 1月31日
再表 2011-27392	試験装置、試験方法およびプログラム	2013年 1月31日
特開 2013-21790	スイッチング電源の制御回路および制御方法、ならびにそれらを用いた試験装置	2013年 1月31日
再表 2011-24394	変調された被試験信号の試験装置および試験方法	2013年 1月24日
再表 2011-24303	プローブ、プローブカード及び電子部品試験装置	2013年 1月24日
再表 2011-18818	差動型ＳＲフリップフロップおよびそれを用いた試験装置	2013年 1月17日
特開 2013-7710	試験装置および試験方法	2013年 1月10日
特開 2013-7616	信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体	2013年 1月10日
再表 2011-16097	ウエハトレイおよび試験装置	2013年 1月10日
特開 2013-7910	光デバイスまたは光変調装置	2013年 1月10日

127 件中 106-120 件を表示

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2013-24704 2011-30379 2013-26195 2013-26854 2013-20920 2013-19843 2011-27392 2013-21790 2011-24394 2011-24303 2011-18818 2013-7710 2013-7616 2011-16097 2013-7910

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