株式会社島津製作所
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第157位 232件
（
2023年：第129位 274件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第73位 389件
（
2023年：第74位 421件）
（ランキング更新日：2025年1月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7468241 | 成膜装置、成膜方法およびプログラム | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468310 | 表面分析装置 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468370 | Ｘ線透視撮影装置およびＸ線透視撮影方法 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468373 | Ｘ線撮影装置 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468388 | 液体クロマトグラフ用検出器 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468389 | 液体クロマトグラフ用検出器 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468406 | フーリエ変換赤外分光光度計 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468417 | 分取液体クロマトグラフ | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468430 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468684 | 姿勢検出装置、姿勢検出方法および寝相判定方法 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7468845 | 分析支援装置、分析支援方法、分析支援プログラムおよび分析システム | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7463938 | Ｘ線撮影システムおよび異物確認方法 | 2024年 4月 9日 | |
| 特許 7463944 | 波形処理支援装置および波形処理支援方法 | 2024年 4月 9日 | |
| 特許 7463959 | 産業用Ｘ線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置 | 2024年 4月 9日 | |
| 特許 7464149 | 自動試料注入装置、及び自動試料注入装置を制御するための方法 | 2024年 4月 9日 |
403 件中 271-285 件を表示
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7468241 7468310 7468370 7468373 7468388 7468389 7468406 7468417 7468430 7468684 7468845 7463938 7463944 7463959 7464149
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