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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1549位 15件
(
2022年:第1878位 12件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第602位 43件
(
2022年:第476位 59件)
(ランキング更新日:2025年12月12日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7270637 | X線分析装置及びX線発生ユニット | 2023年 5月10日 | |
| 特許 7267161 | 排ガス分析装置、排ガス分析方法、及び補正式作成方法 | 2023年 5月 1日 | |
| 特許 7264917 | X線導管の製造方法 | 2023年 4月25日 | |
| 特許 7263379 | 元素検出方法、元素検出装置、及びコンピュータプログラム | 2023年 4月24日 | |
| 特許 7257939 | 測定装置、及び、制御方法 | 2023年 4月14日 | |
| 特許 7246871 | 分析装置、システム、分析方法、及びプログラム | 2023年 3月28日 | |
| 特許 7233368 | エクソソーム表面分子を特定する方法 | 2023年 3月 6日 | |
| 特許 7232771 | 判別方法、学習方法、判別装置及びコンピュータプログラム | 2023年 3月 3日 | |
| 特許 7228599 | X線分析装置、X線分析システム、分析方法、及びプログラム | 2023年 2月24日 | |
| 特許 7227895 | 相互作用検出方法、相互作用検出装置及びバイオチップ再生キット | 2023年 2月22日 | |
| 特許 7227984 | 電解液分析方法及び電解液分析装置 | 2023年 2月22日 | |
| 特許 7223752 | 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム | 2023年 2月16日 | |
| 特許 7221298 | 粒子物性測定に用いられる光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 | 2023年 2月13日 | |
| 特許 7217624 | 粒子数計測装置及び粒子数計測方法 | 2023年 2月 3日 | |
| 特許 7217755 | 分析装置及び分析方法 | 2023年 2月 3日 |
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7270637 7267161 7264917 7263379 7257939 7246871 7233368 7232771 7228599 7227895 7227984 7223752 7221298 7217624 7217755
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