※ ログインすれば出願人(三星電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2017年 出願公開件数ランキング 第161位 335件
(
2016年:第131位 336件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第121位 268件
(
2016年:第120位 291件)
(ランキング更新日:2025年12月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6189023 | フォトニック結晶構造体、その製造方法、フォトニック結晶構造体を用いた反射型カラーフィルタ及びディスプレイ装置 | 2017年 8月30日 | |
| 特許 6189610 | 電子署名検証装置及び方法 | 2017年 8月30日 | |
| 特許 6189615 | 活性領域を限定する線状のトレンチを有する半導体素子及びその形成方法 | 2017年 8月30日 | |
| 特許 6190193 | TSV構造を有する集積回路素子及びその製造方法 | 2017年 8月30日 | |
| 特許 6184062 | 映像処理のための方法及び装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6184098 | 電子装置及びその制御方法 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6184137 | 電力管理チップ及びそれを備える電力管理装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6184684 | イヤホン接続検出システム及びこれを支援する端末機 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6184702 | 信号ケーブル、ケーブルコネクター及びこれを含む信号ケーブル連結装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185287 | シリコン貫通ビアの構造物およびその形成方法 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185320 | セット値を変更する電子装置及び方法 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6185718 | システムオンチップの温度管理方法 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6186196 | データに基づいて電力を管理する装置及び方法 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6179843 | 実装装置及び実装方法 | 2017年 8月16日 | |
| 特許 6180712 | 単純化された光センシング回路、前記光センシング回路を含む光センシング装置、前記光センシング装置を駆動する方法、及び前記光センシング装置を含む画像取得装置及び光タッチスクリーン装置 | 2017年 8月16日 |
269 件中 91-105 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6189023 6189610 6189615 6190193 6184062 6184098 6184137 6184684 6184702 6185287 6185320 6185718 6186196 6179843 6180712
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。三星電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
12月8日(月) - 愛知 名古屋市
12月9日(火) - 大阪 大阪市
12月10日(水) - 東京 千代田区
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月8日(月) - 愛知 名古屋市
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ~スキルアップ編~ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く! 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月15日(月) -
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定