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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第830位 32件
（
2021年：第806位 36件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1135位 19件
（
2021年：第1853位 9件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7030549 | 荷電粒子源の放出雑音補正 | 2022年 3月 7日 | |
| 特許 7028783 | 波形マッピングおよびゲートレーザ電圧イメージング | 2022年 3月 2日 | |
| 特許 7026568 | 荷電粒子顕微鏡法の革新的な画像処理 | 2022年 2月28日 | |
| 特許 7007136 | トモグラフィック・イメージング方法 | 2022年 1月24日 |
19 件中 16-19 件を表示
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7030549 7028783 7026568 7007136
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