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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第806位 36件
（
2020年：第1011位 26件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第1853位 9件
（2020年：第1945位 8件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6983558 | プラズマクリーナで使用される磁石 | 2021年12月17日 | |
| 特許 6974139 | 炭素除去のための荷電粒子ビーム・プロセスの強化 | 2021年12月 1日 | |
| 特許 6951298 | 荷電粒子ビームに光ビームをアライメントするための方法 | 2021年10月20日 | |
| 特許 6940985 | タイコグラフィを用いて試料をイメージングする方法 | 2021年 9月29日 | |
| 特許 6932004 | 荷電粒子顕微鏡における３次元イメージング | 2021年 9月 8日 | |
| 特許 6929730 | 飛行時間型荷電粒子分光学 | 2021年 9月 1日 | |
| 特許 6920808 | 粒子放射を検出するための方法 | 2021年 8月18日 | |
| 特許 6869022 | 現位置堆積機能を備える荷電粒子顕微鏡 | 2021年 5月12日 | |
| 特許 6867133 | ナノリアクタおよび電子顕微鏡と協働するホルダ組立体 | 2021年 4月28日 |
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6983558 6974139 6951298 6940985 6932004 6929730 6920808 6869022 6867133
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