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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6051245	荷電粒子顕微鏡内で試料を検査する方法	2016年12月27日
特許 6053113	ＥＴＥＭにおけるサンプルを評価研究する方法	2016年12月27日
特許 6047301	粒子光学鏡筒用の鏡筒内検出器	2016年12月21日
特許 6047592	相関光学及び荷電粒子顕微鏡	2016年12月21日
特許 6030313	冷陰極電界放出型電子源、その操作方法及び製造方法	2016年11月24日
特許 6031230	荷電粒子システム、蛍光マーカー局在化方法、試料分析方法及び画像処理方法	2016年11月24日
特許 6031256	Ｅ×Ｂウィーンフィルタの磁場分布を制御するための方法及び構造	2016年11月24日
特許 6027942	ＴＥＭ用位相板	2016年11月16日
特許 6012191	荷電粒子顕微鏡に用いられる検出方法	2016年10月25日
特許 5995562	荷電粒子装置において用いられる検出器	2016年 9月21日
特許 5995773	検査方法及び荷電粒子顕微鏡	2016年 9月21日
特許 5996239	荷電粒子装置における放射線検出器の保護方法、同方法のためのコンピュータプログラム及び同プログラムを記憶した記憶媒体	2016年 9月21日
特許 5970498	デュアルビームシステム及びその制御方法	2016年 8月17日
特許 5965656	コントラストを向上させる素子を具備するＴＥＭにおける光学素子をセンタリングするための方法	2016年 8月10日
特許 5965978	荷電粒子ビームの波面を調査する方法	2016年 8月10日

33 件中 1-15 件を表示

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6051245 6053113 6047301 6047592 6030313 6031230 6031256 6027942 6012191 5995562 5995773 5996239 5970498 5965656 5965978

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