特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ　イー　アイ　カンパニ

※ ログインすれば出願人(エフ　イー　アイ　カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2016年出願公開件数ランキング　　　第1441位　17件（2015年：第1576位　15件）

　■　2016年特許取得件数ランキング　　　第732位　33件（2015年：第1215位　16件）

（ランキング更新日：2025年4月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6051245	荷電粒子顕微鏡内で試料を検査する方法	2016年12月27日
特許 6053113	ＥＴＥＭにおけるサンプルを評価研究する方法	2016年12月27日
特許 6047301	粒子光学鏡筒用の鏡筒内検出器	2016年12月21日
特許 6047592	相関光学及び荷電粒子顕微鏡	2016年12月21日
特許 6030313	冷陰極電界放出型電子源、その操作方法及び製造方法	2016年11月24日
特許 6031230	荷電粒子システム、蛍光マーカー局在化方法、試料分析方法及び画像処理方法	2016年11月24日
特許 6031256	Ｅ×Ｂウィーンフィルタの磁場分布を制御するための方法及び構造	2016年11月24日
特許 6027942	ＴＥＭ用位相板	2016年11月16日
特許 6012191	荷電粒子顕微鏡に用いられる検出方法	2016年10月25日
特許 5995562	荷電粒子装置において用いられる検出器	2016年 9月21日
特許 5995773	検査方法及び荷電粒子顕微鏡	2016年 9月21日
特許 5996239	荷電粒子装置における放射線検出器の保護方法、同方法のためのコンピュータプログラム及び同プログラムを記憶した記憶媒体	2016年 9月21日
特許 5970498	デュアルビームシステム及びその制御方法	2016年 8月17日
特許 5965656	コントラストを向上させる素子を具備するＴＥＭにおける光学素子をセンタリングするための方法	2016年 8月10日
特許 5965978	荷電粒子ビームの波面を調査する方法	2016年 8月10日

33 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6051245 6053113 6047301 6047592 6030313 6031230 6031256 6027942 6012191 5995562 5995773 5996239 5970498 5965656 5965978

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ　イー　アイ　カンパニの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数