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エフ イー アイ カンパニ

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  2016年 出願公開件数ランキング    第1441位 17件 上昇2015年:第1576位 15件)

  2016年 特許取得件数ランキング    第732位 33件 上昇2015年:第1215位 16件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6051245 荷電粒子顕微鏡内で試料を検査する方法 2016年12月27日
特許 6053113 ETEMにおけるサンプルを評価研究する方法 2016年12月27日
特許 6047301 粒子光学鏡筒用の鏡筒内検出器 2016年12月21日
特許 6047592 相関光学及び荷電粒子顕微鏡 2016年12月21日
特許 6030313 冷陰極電界放出型電子源、その操作方法及び製造方法 2016年11月24日
特許 6031230 荷電粒子システム、蛍光マーカー局在化方法、試料分析方法及び画像処理方法 2016年11月24日
特許 6031256 E×Bウィーンフィルタの磁場分布を制御するための方法及び構造 2016年11月24日
特許 6027942 TEM用位相板 2016年11月16日
特許 6012191 荷電粒子顕微鏡に用いられる検出方法 2016年10月25日
特許 5995562 荷電粒子装置において用いられる検出器 2016年 9月21日
特許 5995773 検査方法及び荷電粒子顕微鏡 2016年 9月21日
特許 5996239 荷電粒子装置における放射線検出器の保護方法、同方法のためのコンピュータプログラム及び同プログラムを記憶した記憶媒体 2016年 9月21日
特許 5970498 デュアルビームシステム及びその制御方法 2016年 8月17日
特許 5965656 コントラストを向上させる素子を具備するTEMにおける光学素子をセンタリングするための方法 2016年 8月10日
特許 5965978 荷電粒子ビームの波面を調査する方法 2016年 8月10日

33 件中 1-15 件を表示

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6051245 6053113 6047301 6047592 6030313 6031230 6031256 6027942 6012191 5995562 5995773 5996239 5970498 5965656 5965978

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