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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第1441位 17件 (2015年:第1576位 15件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第732位 33件 (2015年:第1215位 16件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6051245 | 荷電粒子顕微鏡内で試料を検査する方法 | 2016年12月27日 | |
特許 6053113 | ETEMにおけるサンプルを評価研究する方法 | 2016年12月27日 | |
特許 6047301 | 粒子光学鏡筒用の鏡筒内検出器 | 2016年12月21日 | |
特許 6047592 | 相関光学及び荷電粒子顕微鏡 | 2016年12月21日 | |
特許 6030313 | 冷陰極電界放出型電子源、その操作方法及び製造方法 | 2016年11月24日 | |
特許 6031230 | 荷電粒子システム、蛍光マーカー局在化方法、試料分析方法及び画像処理方法 | 2016年11月24日 | |
特許 6031256 | E×Bウィーンフィルタの磁場分布を制御するための方法及び構造 | 2016年11月24日 | |
特許 6027942 | TEM用位相板 | 2016年11月16日 | |
特許 6012191 | 荷電粒子顕微鏡に用いられる検出方法 | 2016年10月25日 | |
特許 5995562 | 荷電粒子装置において用いられる検出器 | 2016年 9月21日 | |
特許 5995773 | 検査方法及び荷電粒子顕微鏡 | 2016年 9月21日 | |
特許 5996239 | 荷電粒子装置における放射線検出器の保護方法、同方法のためのコンピュータプログラム及び同プログラムを記憶した記憶媒体 | 2016年 9月21日 | |
特許 5970498 | デュアルビームシステム及びその制御方法 | 2016年 8月17日 | |
特許 5965656 | コントラストを向上させる素子を具備するTEMにおける光学素子をセンタリングするための方法 | 2016年 8月10日 | |
特許 5965978 | 荷電粒子ビームの波面を調査する方法 | 2016年 8月10日 |
33 件中 1-15 件を表示
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6051245 6053113 6047301 6047592 6030313 6031230 6031256 6027942 6012191 5995562 5995773 5996239 5970498 5965656 5965978
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