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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2022-183124	荷電粒子ビームによる液体整形	2022年12月 8日
特開 2022-180335	隣接する断層撮影傾斜画像からの改善されたスパース画像再構成	2022年12月 6日
特開 2022-159092	荷電粒子顕微鏡で使用するためのサンプル担体、およびそのようなサンプル担体を荷電粒子顕微鏡で使用する方法	2022年10月17日
特開 2022-159113	改善された冷却特性を有する極低温サンプルの調製方法	2022年10月17日
特開 2022-159114	材料および鉱物の分類のための複数の画像セグメンテーションおよび／または複数の動的スペクトル取得	2022年10月17日
特開 2022-159159	マルチビーム走査型電子顕微鏡における一次非点収差と一次歪みの補正方法	2022年10月17日
特開 2022-159166	マルチピラーサンプルを撮像するための方法およびシステム	2022年10月17日
特開 2022-159158	結晶構造を決定する方法およびシステム	2022年10月17日
特開 2022-155554	三次元電子回折データを取得するための方法およびシステム	2022年10月13日
特開 2022-151866	ドリフト補正された高速、低線量の、適応的組成荷電粒子イメージングのための二種速度取得	2022年10月 7日
特開 2022-151787	制御されたガス流および汚染を減らすためのシステムによるその場レーザー再堆積の低減	2022年10月 7日
特開 2022-140408	機械的に安定した電子源	2022年 9月26日
特開 2022-136036	複合試料評価ワークフローのためのスマート試料容器	2022年 9月15日
特開 2022-119209	スペクトルデータの成分分析の方法およびシステム	2022年 8月16日
特開 2022-105317	ＴＥＭ補正器システムにおける熱磁場ノイズの低減	2022年 7月13日

32 件中 1-15 件を表示

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2022-183124 2022-180335 2022-159092 2022-159113 2022-159114 2022-159159 2022-159166 2022-159158 2022-155554 2022-151866 2022-151787 2022-140408 2022-136036 2022-119209 2022-105317

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